Resonancia de plasmones superficiales propagantes en sistemas film metálicos utilizando la configuración de Kretschmann

Edinson Leonardo  Gélvez Rodríguez; Luis Alfonso  Guerra Hernández

doi:10.24054/sei.v4i1.1171

Autores/as

Edinson Leonardo Gélvez Rodríguez Universidad de Pamplona
Luis Alfonso Guerra Hernández Institución Educativa Ciudadela las Américas

DOI:

https://doi.org/10.24054/sei.v4i1.1171

Palabras clave:

plasmón, resonancia, reflectividad

Resumen

La resonancia de plasmones de superficie depende de varios parámetros como son: la polarización de la radiación electromagnética, el espesor de film metálico, el índice de refracción del medio dieléctrico entre otros. Los metales más usados para este propósito son el Au y la Ag por sus propiedades dieléctricas entre las cuales la más importantes es la de poder reflejar muy intensamente la luz en la región visible del espectro electromagnético. En este trabajo se verificó mediante simulaciones la incidencia de los parámetros mencionados anteriormente en la resonancia de los plasmones superficiales propagantes utilizando la configuración de Kretschmann.

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